境試驗箱.png "環(huán)境試驗箱")
測儀器.jpg "表面光學檢測")
超分辨率顯微鏡系統(tǒng)產(chǎn)品介紹
超分辨率顯微鏡系統(tǒng)N-SIM E
個人用的超分辨率顯微鏡，提供與N-SIM S相同的高分辨率
N-SIM E是一款流線型、價格合理的超分辨率系統(tǒng)，可提供傳統(tǒng)光學顯微鏡兩倍的分辨率。結(jié)合N-SIM E和共聚焦顯微鏡，您可以靈活地在共聚焦圖像中選擇一個位置，并輕松切換至超分辨率模式，從而獲得更多細節(jié)。
超分辨率顯微鏡系統(tǒng)N-SIM E主要特性
分辨率為傳統(tǒng)光學顯微鏡的2倍
借助尼康創(chuàng)新的結(jié)構化照明顯微方法，并與尼康著名的高數(shù)值孔徑物鏡（NA值高達1.49）相結(jié)合，N-SIM E幾乎可以使傳統(tǒng)光學顯微鏡的空間分辨率提高一倍（達到約115nm *），從而幫助用戶觀察到微小的胞內(nèi)結(jié)構及其相互作用。
具有1秒/幀的高時間分辨率的超分辨成像
N-SIM E為結(jié)構化照明技術提供快速的成像性能，約1秒/幀的時間分辨率，對活細胞成像有效。
拍攝更大的視野
N-SIM E可以獲得具有66微米見方的大視野的超分辨率圖像。這個更大的成像區(qū)域可以為受益于更大視野的應用/樣本（例如神經(jīng)元）提供非常高的吞吐量，從而減少獲取數(shù)據(jù)所需的時間和精力。
采用3D-SIM模式的軸向超分辨率
3D-SIM模式生成三維結(jié)構化照明圖案，使橫向和軸向分辨率提高一倍。兩種重建方法（“slice”和“stack”）可用于優(yōu)化結(jié)果，根據(jù)應用的要求（例如樣品厚度、速度等）。Slice重建適用于在特定深度成像的活細胞，因為它支持軸向超分辨率成像，具有300nm分辨率的光學切片。基于Gustafsson理論的可選stack重建適用于采集3D數(shù)據(jù)，因為它能以比slice重建更高的對比度去成像更厚的樣本。
成像模式可在多尺寸實驗之間無縫切換
N-SIM E可以與共聚焦顯微鏡（AX/AX R）相組合。可以在低放大率/大視野共聚焦圖像中指定樣本中的期望位置，并且通過簡單地切換成像方法以獲得超分辨率圖像。將共聚焦顯微鏡與超分辨率系統(tǒng)相結(jié)合有利于了解超分辨信息的來龍去脈。
3色多激光超分辨率成像能力
專用于N-SIM E的緊湊型LU-N3-SIM激光臺安裝有三種最常用波長的激光器（488/561/640），可實現(xiàn)多種顏色的超分辨率成像。它能夠在分子水平上研究多種目的蛋白質(zhì)的動態(tài)相互作用。
超分辨率顯微鏡系統(tǒng)技術參數(shù)
超分辨率顯微鏡系統(tǒng)標準配置
超分辨率顯微鏡系統(tǒng)可選配件
超分辨率顯微鏡系統(tǒng)相關視頻
暫時不能提供，如需要詳細資料，請主動與我們聯(lián)系。
超分辨率顯微鏡系統(tǒng)資料下載
暫時不能提供，如需要詳細資料，請主動與我們聯(lián)系。
